Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
Journal of microelectromechanical systems, 2004-02, Vol.13 (1), p.63-74
2004
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 2005-09, Vol.45 (9), p.1750-1757
2005
Volltextzugriff (PDF)

2001 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 39th Annual (Cat. No.00CH37167), 2001, p.81-90
2001
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 2007-09, Vol.47 (9), p.1806-1811
2007
Volltextzugriff (PDF)

Failure mechanisms in mems
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.1, p.828-833
2003
Volltextzugriff (PDF)

International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.1, p.674-680
2003
Volltextzugriff (PDF)

International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.1, p.850-855
2003
Volltextzugriff (PDF)

International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.1, p.834-842
2003
Volltextzugriff (PDF)

2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual, 2005, p.317-324
2005
Volltextzugriff (PDF)

2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st Annual, 2003, p.484-490
2003
Volltextzugriff (PDF)

2002 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings. 40th Annual (Cat. No.02CH37320), 2002, p.122-129
2002
Volltextzugriff (PDF)

1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 37th Annual (Cat. No.99CH36296), 1999, p.189-197
1999
Volltextzugriff (PDF)


2000 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 38th Annual (Cat. No.00CH37059), 2000, p.139-145
2000
Volltextzugriff (PDF)

2000 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 38th Annual (Cat. No.00CH37059), 2000, p.129-138
2000
Volltextzugriff (PDF)

2000 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 38th Annual (Cat. No.00CH37059), 2000, p.146-151
2000
Volltextzugriff (PDF)

Construction & building materials, 2017-12, Vol.157, p.182-193
2017
Volltextzugriff (PDF)



Journal of child psychology and psychiatry, 2007-07, Vol.48 (7), p.649-656
2007
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on plasma science, 2004-08, Vol.32 (4), p.1540-1543
2004
Volltextzugriff (PDF)

Developmental psychobiology, 2008-03, Vol.50 (2), p.196-201
2008
Volltextzugriff (PDF)



Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n