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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE journal of solid-state circuits, 2020, Vol.3, p.286-289
2020
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2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020, p.1456-1461
2020
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IEEE journal of solid-state circuits, 2009-04, Vol.44 (4), p.1167-1177
2009
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IEEE journal of solid-state circuits, 2008-01, Vol.43 (1), p.223-235
2008
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2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2010), 2010, p.33-38
2010
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IEEE journal of solid-state circuits, 2001-07, Vol.36 (7), p.1101-1107
2001
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2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020, p.1187-1192
2020
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11th IEEE International Symposium on Asynchronous Circuits and Systems, 2005, p.54-63
2005
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
2020
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2009-07, Vol.17 (7), p.893-906
2009
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2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2015, p.1550-1553
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2015 31st Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2015, p.221-227
2015
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.36.5.1-36.5.4
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2019 IFIP/IEEE 27th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2019, p.166-171
2019
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Proceedings of the 23rd Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2020, p.1456-1461
2020
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.15.3.1-15.3.4
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2012 IEEE 18th International Symposium on Asynchronous Circuits and Systems, 2012, p.73-80
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Gastroenterology (New York, N.Y. 1943), 1998-12, Vol.115 (6), p.1340-1345
1998
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2019 International 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2019, p.1-5
2019
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2021 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC), 2021, p.1-1
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- Lattard, D.
- Andrieu, F.
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- Ponthenier, F.
- Rambal, N.
- Sideris, P.
- Garros, X.
- Casse, M.
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- Sklenard, B.
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- Besson, P.
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- Hartmann, J-M.
- Mazen, F.
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- Ribotta, CM
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2021
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2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.3.2.1-3.2.4
- Batude, P.
- Billoint, O.
- Thuries, S.
- Malinge, P.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Peizerat, A.
- Sicard, G.
- Vivet, P.
- Reboh, S.
- Cavalcante, C.
- Brunet, L.
- Ribotta, M.
- Brevard, L.
- Garros, X.
- Frutuoso, T. Mota
- Sklenard, B.
- Lacord, J.
- Kanyandekwe, J.
- Kerdiles, S.
- Sideris, P.
- Theodorou, C.
- Lapras, V.
- Mouhdach, M.
- Gaudin, G.
- Besnard, G.
- Radu, I.
- Ponthenier, F.
- Farcy, A.
- Jesse, E.
- Guyader, F.
- Matheret, T.
- Brunet, P.
- Milesi, F.
- Van-Jodin, L. Le
- Sarrazin, A.
- Perrin, B.
- Moulin, C.
- Maitrejean, S.
- Alepidis, M.
- Ionica, I.
- Cristoloveanu, S.
- Gaillard, F.
- Vinet, M.
- Andrieu, F.
- Arcamone, J.
- Ollier, E.
2021
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Proceedings of the 23rd Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2020, p.1187-1192
2020
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