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Phase-shift speckle-shearing interferometry
Quantum electronics (Woodbury, N.Y.), 2020-07, Vol.50 (7), p.636-642
2020
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Report on supplementary comparison COOMET.PR-S3: refractive index
Metrologia, 2016-01, Vol.53 (1A), p.2001
2016
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Report on supplementary comparison COOMET.PR-S3: refractive index
Metrologia, 2016-01, Vol.53, p.1-1
2016
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Spectral Analysis of the Method for Measuring Phase Shift from an Interferogram
Measurement techniques, 2016-02, Vol.58 (11), p.1228-1233
2016
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Experimental Investigations of the Metrological Characteristics of the Optical Scanner of the OptikDent CAD/CAM System
Measurement techniques, 2014-02, Vol.56 (11), p.1239-1241
2014
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Measurement of the radius of curvature and decentering of the backings of laser mirrors on an interferometer computer profilometer
Measurement techniques, 2012-11, Vol.55 (8), p.904-907
2012
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The effect of the manufacturing quality of the optical components on the accuracy of the measurement of refractive index by the goniometer method
Measurement techniques, 2012-03, Vol.54 (12), p.1372-1377
2012
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The Lateral Resolution of an Interference Microscope
Measurement techniques, 2013-08, Vol.56 (5), p.486-491
2013
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Analysis of Uncertainties caused by Procedural and Instrumental Interferometry Errors in the Texture and Shape Parameters of a Surface
Measurement techniques, 2013-12, Vol.56 (9), p.1006-1010
2013
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Measurements of the phase difference of a birefringent material on a rotating-analyzer phase polarimeter
Measurement techniques, 2011-09, Vol.54 (6), p.660-667
2011
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National primary standard for the units of rotation of the plane of polarization
Measurement techniques, 2010-07, Vol.53 (3), p.221-227
2010
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Modern dental CAD/CAM systems with intraoral 3D profilometers
Measurement techniques, 2010-07, Vol.53 (3), p.321-324
2010
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An iterative method for improving the quality of reconstruction of a three-dimensional surface
Optics and spectroscopy, 2005-12, Vol.99 (6), p.1012-1015
2005
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On the possibilities of chronotomography of high speed processes
Optics communications, 1985-12, Vol.56 (4), p.231-234
1985
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Special Features of the Electrical Conductivity in Doped {alpha}-Si:H Films with Silicon Nanocrystals
Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2005-04, Vol.39 (4)
2005
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