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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2005-10, Vol.24 (10), p.1606-1621
2005
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2009-10, Vol.28 (10), p.1597-1608
2009
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Open Access
Incremental fault diagnosis
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2005-02, Vol.24 (2), p.240-251
2005
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2008-06, Vol.16 (6), p.628-638
2008
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1999-12, Vol.18 (12), p.1803-1816
1999
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Open Access
Design rewiring using ATPG
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2002-12, Vol.21 (12), p.1469-1479
2002
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2013-10, Vol.32 (10), p.1609-1622
2013
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2006-07, Vol.14 (7), p.763-776
2006
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2012-02, Vol.31 (2), p.271-284
2012
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2011-10, Vol.19 (10), p.1926-1931
2011
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2004
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-06, Vol.20 (6), p.1118-1131
2012
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-03, Vol.18 (3), p.365-377
2010
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DAC Design Automation Conference 2012, 2012, p.947-954
2012
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Proceedings - International Test Conference, 2002, p.1085-1092
2002
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Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe; 04-08 Mar. 2002, 2002, p.716-721
2002
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Proceedings. 4th International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Common Challenges and Solutions, 2003, p.60-65
2003
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2011 Design, Automation & Test in Europe, 2011, p.1-6
2011
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2003
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Open Access
Design rewiring using ATPG
Proceedings - International Test Conference, 2002, p.223-232
2002
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2012 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2012, p.629-634
2012
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2007 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2007, p.1-6
2007
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ICCAD-2005. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, 2005, 2005, p.871-876
2005
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ASP-DAC 2004: Asia and South Pacific Design Automation Conference 2004 (IEEE Cat. No.04EX753), 2004, p.218-223
2004
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