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- Reu, P. L.
- Blaysat, B.
- Andó, E.
- Bhattacharya, K.
- Couture, C.
- Couty, V.
- Deb, D.
- Fayad, S. S.
- Iadicola, M. A.
- Jaminion, S.
- Klein, M.
- Landauer, A. K.
- Lava, P.
- Liu, M.
- Luan, L. K.
- Olufsen, S. N.
- Réthoré, J
- Roubin, E.
- Seidl, D. T.
- Siebert, T.
- Stamati, O.
- Toussaint, E.
- Turner, D.
- Vemulapati, C. S. R.
- Weikert, T.
- Witz, J. F.
- Witzel, O.
- Yang, J.
2022
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Experimental mechanics, 2022-04, Vol.62 (4), p.639-654
2022
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Journal of virology, 2016-12, Vol.90 (23), p.10762-10773
2016
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IEEE electron device letters, 2016-09, Vol.37 (9), p.1178-1180
2016
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IEEE transactions on power electronics, 2015-09, Vol.30 (9), p.4638-4642
2015
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IEEE electron device letters, 2019-02, Vol.40 (2), p.177-180
2019
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2017 29th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's (ISPSD), 2017, p.243-246
2017
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2017 29th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's (ISPSD), 2017, p.53-56
2017
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Data Communication and Networks, 2019, Vol.1049, p.59-67
2019
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2023 11th International Conference on Power Electronics and ECCE Asia (ICPE 2023 - ECCE Asia), 2023, p.1189-1194
2023
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2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.36.4.1-36.4.4
2021
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Advances in Non-Destructive Evaluation, 2021, p.145-152
2021
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2012 IEEE 36th Annual Computer Software and Applications Conference, 2012, p.416-421
2012
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2018 International Power Electronics Conference (IPEC-Niigata 2018 -ECCE Asia), 2018, p.3596-3602
2018
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Proceedings of the IEEE, 1996-07, Vol.84 (7), p.1038-1049
1996
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International journal of imaging systems and technology, 1996, Vol.7 (4), p.379-391
1996
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