Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2008-04, Vol.16 (4), p.408-421
2008
Volltextzugriff (PDF)

25th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'07), 2007, p.35-42
2007
Volltextzugriff (PDF)

20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07), 2007, p.407-412
2007
Volltextzugriff (PDF)

2006 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop, 2006, p.137-142
2006
Volltextzugriff (PDF)

Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe; 04-08 Mar. 2002, 2002, p.730-734
2002
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings - International Test Conference, 2002, p.194-202
2002
Volltextzugriff (PDF)

16th International Conference on VLSI Design, 2003. Proceedings, 2003, p.243-248
2003
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002), 2002, p.237-243
2002
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (Cat. No.PR00786), 2000, p.9-14
2000
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings International Symposium on Quality Electronic Design, 2002, p.280-285
2002
Volltextzugriff (PDF)

17th International Conference on VLSI Design. Proceedings, 2004, p.591-596
2004
Volltextzugriff (PDF)

International journal of polymeric materials, 1983-06, Vol.10 (2), p.149-158
1983
Volltextzugriff (PDF)