Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...







Microscopy microanalysis microstructures (Les Ulis), 1990-06, Vol.1 (3), p.215-231, Article 215
1990
Volltextzugriff (PDF)




IEEE transactions on device and materials reliability, 2008-06, Vol.8 (2), p.304-311
2008
Volltextzugriff (PDF)


Biophysical journal, 1995-04, Vol.68 (4 Suppl), p.370s-370s
1995
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 1983, Vol.23 (3), p.577-585
1983
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 2002-09, Vol.42 (9), p.1311-1315
2002
Volltextzugriff (PDF)

2006 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings, 2006, p.1278-1283
2006
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2008-05, Vol.57 (5), p.989-996
2008
Volltextzugriff (PDF)



Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.42 (9), p.1293-1298
2004
Volltextzugriff (PDF)

Monthly notices of the Royal Astronomical Society, 2018-08, Vol.478 (2), p.1601-1610
2018
Volltextzugriff (PDF)



Microelectronics and reliability, 1982, Vol.22 (6), p.1155-1175
1982
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen
Erscheinungsjahr
n.n
n.n