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  • BibTeX
Phosphors for LED-based light sources: Thermal properties and reliability issues
Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.2164-2167
2012
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  • BibTeX
Optical losses in single-mode laser diodes
Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1529-1533
2013
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The role of the optical trans-characteristics in laser diode analysis
Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1538-1542
2013
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  • BibTeX
Peculiar failure mechanisms in GaN power transistors
Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113896, Article 113896
2020
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  • BibTeX
FIB-induced electro-optical alterations in a DFB InP laser diode
Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.2151-2153
2014
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  • BibTeX
XEBIC at the Dual Beam
Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1399-1402
2013
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  • BibTeX
The interpretation of the DC characteristics of LED and laser diodes to address their failure analysis
Microelectronics and reliability, 2010-04, Vol.50 (4), p.471-478
2010
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  • BibTeX
DC parameters for laser diodes from experimental curves
Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1752-1756
2011
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  • BibTeX
Failure Analysis-assisted FMEA
Microelectronics and reliability, 2006-09, Vol.46 (9), p.1795-1799
2006
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  • BibTeX
Sulfur-contamination of high power white LED
Microelectronics and reliability, 2008-08, Vol.48 (8), p.1208-1211
2008
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  • BibTeX
“Hot-plugging” of LED modules: Electrical characterization and device degradation
Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1524-1528
2013
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  • BibTeX
Lot reliability issues in commercial off the shelf (COTS) microelectronic devices
Microelectronics and reliability, 2009-09, Vol.49 (9), p.1196-1199
2009
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  • BibTeX
An Automatic Alignment Procedure for a Four-Source Photometric Stereo Technique Applied to Scanning Electron Microscopy
IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2008-05, Vol.57 (5), p.989-996
2008
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  • BibTeX
Further improvements of an extended Hakki-Paoli method
Microelectronics and reliability, 2018-09, Vol.88-90, p.859-863
2018
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  • BibTeX
High brightness GaN LEDs degradation during dc and pulsed stress
Microelectronics and reliability, 2006-09, Vol.46 (9), p.1720-1724
2006
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  • BibTeX
An original DoE-based tool for silicon photodetectors EoL estimation in space environments
Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1999-2003
2011
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  • BibTeX
A physically based mobility model for numerical simulation of nonplanar devices
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1988-11, Vol.7 (11), p.1164-1171
1988
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  • BibTeX
Implementation of a "Design of Experiments" Methodology for the Prediction of Phototransistor Degradation in a Space Environment
IEEE transactions on nuclear science, 2009-08, Vol.56 (4), p.2465-2472
2009
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  • BibTeX
Reliability predictions in electronic industrial applications
Microelectronics and reliability, 2005-09, Vol.45 (9), p.1321-1326
2005
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  • BibTeX
Improvements in automated photometric stereo 3D SEM
Microscopy and microanalysis, 2008-08, Vol.14 (S2), p.608-609
2008
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  • BibTeX
Optical gain in laser diodes with null reflectivity
Microelectronics and reliability, 2019-09, Vol.100-101, p.113455, Article 113455
2019
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  • BibTeX
Reliability of visible GaN LEDs in plastic package
Microelectronics and reliability, 2003-09, Vol.43 (9), p.1737-1742
2003
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  • BibTeX
SEM Remote Control with a 3D Option
Microscopy and microanalysis, 2008-08, Vol.14 (S2), p.892-893
2008
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  • BibTeX
ESD tests on 850nm GaAs-based VCSELs
Microelectronics and reliability, 2016-09, Vol.64, p.617-622
2016
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  • BibTeX
Quantitative 3D reconstruction from BS imaging
Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.44 (9), p.1547-1552
2004
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