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IEEE transactions on electron devices, 2011-09, Vol.58 (9), p.2878-2887
2011
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IEEE transactions on electron devices, 2011-09, Vol.58 (9), p.2878-2887
2011
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2014 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2014, p.2C.3.1-2C.3.6
2014
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Proceedings of the 2015 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2015, p.100-102
2015
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2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, 2010, p.388-391
2010
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2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013, p.MY.10.1-MY.10.4
2013
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