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IEEE transactions on nanotechnology, 2002-09, Vol.1 (3), p.117-121
2002
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Proceedings of the IEEE, 2000, Vol.88 (9), p.1440-1459
2000
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2007-03, Vol.7 (1), p.5-10
2007
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Proceedings International Test Conference 1996. Test and Design Validity, 1996, p.930
1996
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The 16th Annual Meeting of the IEEE Lasers and Electro-Optics Society, 2003. LEOS 2003, 2003, Vol.2, p.539-540 vol.2
2003
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Proceedings of the 2nd IEEE Conference on Nanotechnology, 2002, p.89-92
2002
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IEEE design & test of computers, 1997-07, Vol.14 (3), p.76-82
1997
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2005 IEEE LEOS Annual Meeting Conference Proceedings, 2005, p.236-237
2005
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Finding fault with deep-submicron ICs
IEEE spectrum, 1997-10, Vol.34 (10), p.39-50
1997
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