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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Microscopy and microanalysis, 2009-07, Vol.15 (S2), p.170-171
2009
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2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2016, p.11.5.1-11.5.4
2016
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ECS journal of solid state science and technology, 2013-01, Vol.2 (11), p.N222-N227
2013
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ECS transactions, 2018, Vol.86 (7), p.199-206
- Aydin, Ömür Işıl
- Holt, Judson Robert
- Le Royer, Cyrille
- Vanamurthy, Laks
- Feudel, Thomas
- Heyne, Tobias
- Gerber, Ralf
- Lenski, Markus
- Jansen, Sören
- Utess, Dirk
- Klein, Christoph
- Peeva, Anita
- Mulfinger, George Robert
- McArdle, Timothy J
- Barge, David
- Divay, Alexis
- Lehmann, Steffen
- Smith, Elliot
- Peters, Carsten
- Sachse, Jens-Uwe
2018
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Journal of the Electrochemical Society, 2012-01, Vol.159 (2), p.H166-H176
2012
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2014 IEEE International Conference on IC Design & Technology, 2014, p.1-4
2014
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2021 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2021, p.1-2
2021
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2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2018, p.1-3
2018
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18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2011, p.1-4
2011
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Journal of applied physics, 2013-08, Vol.114 (8)
2013
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Journal of applied physics, 2013-08, Vol.114 (8)
2013
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BJS open, 2018-09, Vol.2 (5), p.301-309
2018
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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.275-279
2009
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