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2009 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, 2009, Vol.1173, p.34-39
2009
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Microscopy and microanalysis, 2005-08, Vol.11 (S02), p.1610-1611
2005
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 1997-05, Vol.15 (3), p.1319-1327
1997
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2008-01, Vol.26 (1), p.298-304
2008
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Microscopy and microanalysis, 2005-08, Vol.11 (S02), p.2094-2095
2005
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AIP Conference Proceedings, 2003, Vol.683, p.782-795
2003
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Materials science forum, 1995, Vol.185-188, p.109-114
1995
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Materials science forum, 1995, Vol.185-188, p.105-108
1995
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Microelectronics and reliability, 2000-04, Vol.40 (4-5), p.767-770
2000
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Microscopy and microanalysis, 1999-08, Vol.5 (S2), p.48-49
1999
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Proceedings of 11th International Conference on Ion Implantation Technology, 1996, p.158-161
1996
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Energy economics, 2015-05, Vol.49, p.72-81
2015
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9th International Symposium on Electrets (ISE 9) Proceedings, 1996, p.211-216
1996
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International journal of bifurcation and chaos in applied sciences and engineering, 2008-02, Vol.18 (2), p.599-603
2008
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