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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2006-02, Vol.MA2005-02 (13), p.502-502
2006
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Microelectronics and reliability, 2003-09, Vol.43 (9), p.1461-1464
2003
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Proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures (IEEE Cat. No.04CH37516), 2004, p.139-142
2004
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1999 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers. ISSCC. First Edition (Cat. No.99CH36278), 1999, p.432-433
1999
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Proceedings of the 30th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.04EX850), 2004, p.141-144
2004
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International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318), 1999, p.683-686
1999
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