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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2022-03, Vol.56 (3), p.223-229
2022
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2019-04, Vol.53 (4), p.493-498
2019
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2022-03, Vol.56 (3), p.215-222
2022
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2019-02, Vol.53 (2), p.241-245
2019
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2021, Vol.55 (1), p.76-85
2021
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2021-03, Vol.55 (3), p.289-295
2021
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2019-01, Vol.53 (1), p.60-64
2019
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2019-08, Vol.53 (8), p.1004-1010
2019
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2017-10, Vol.51 (10), p.1364-1369
2017
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2018-02, Vol.52 (2), p.268-272
2018
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2017-09, Vol.51 (9), p.1240-1246
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Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2012-07, Vol.282, p.73-75
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2021-02, Vol.55 (1), p.76
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AIP conference proceedings, 2009-12, Vol.1194 (1), p.84-89
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2015-09, Vol.49 (9), p.1176-1180
2015
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2015-09, Vol.49 (9)
2015
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2021-03, Vol.55 (3), p.289
2021
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Optoelectronics, instrumentation, and data processing, 2024-02, Vol.60 (1), p.93-98
2024
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2022-03, Vol.56 (3), p.215
2022
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2017-10, Vol.51 (10)
2017
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Solid-state electronics, 2020-06, Vol.168, p.107734, Article 107734
2020
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