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2007
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Applied physics letters, 2005-12, Vol.87 (24)
2005
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Journal of electronic materials, 2007-04, Vol.36 (4), p.277-284
2007
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Applied physics letters, 2002-10, Vol.81 (15), p.2785-2787
2002
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Journal of physics. Condensed matter, 2004-05, Vol.16 (17), p.S1733-S1754
2004
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2005-03, Vol.23 (2), p.594-598
2005
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2008-01, Vol.26 (1), p.232-243
2008
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Materials science forum, 2006-10, Vol.527-529, p.891-894
2006
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Materials science forum, 2006-10, Vol.527-529, p.907-910
2006
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Applied physics letters, 2001-11, Vol.79 (19), p.3056-3058
2001
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Journal of applied physics, 2007, Vol.101 (11)
2007
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Materials science forum, 2004-01, Vol.457-460, p.543-548
2004
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2002-03, Vol.20 (2), p.554-560
2002
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Applied physics letters, 2005, Vol.87 (24), p.242106
2005
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Inhomogeneities in Ni ∕ 4 H - Si C Schottky barriers: Localized Fermi-level pinning by defect states
2007
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Applied physics letters, 2005-12, Vol.87 (24), p.242106-242106-3
2005
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Journal of electronic materials, 2007, Vol.36 (4), p.277-284
2007
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Journal of physics. Condensed matter, 2004, Vol.16 (17), p.S1733-S1754
2004
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Materials science forum, 2002-04, Vol.389-393, p.451-454
2002
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2006 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2006, p.89-92
2006
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Materials science forum, 2006-10, Vol.527-529, p.911-914
2006
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Materials science forum, 2002-04, Vol.389-393, p.1101-1104
2002
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Materials science forum, 2001-10, Vol.389-393 (2), p.1101-1104
2001
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Materials science forum, 2001-10, Vol.389-393 (1), p.451-454
2001
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Applied surface science, 2005-05, Vol.244 (1), p.257-263
2005
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