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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on electron devices, 2024-05, Vol.71 (5), p.3371-3376
2024
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IEEE access, 2023-01, Vol.11, p.1-1
2023
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IEEE electron device letters, 2011-10, Vol.32 (10), p.1427-1429
2011
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ACS applied materials & interfaces, 2023-06, Vol.15 (22), p.26398-26406
2023
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Japanese Journal of Applied Physics, 2012-04, Vol.51 (4), p.04DD09-04DD09-5
2012
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Computational materials science, 2023-10, Vol.229, p.112410, Article 112410
2023
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IEEE transactions on electron devices, 2008-06, Vol.55 (6), p.1480-1486
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Journal of micromechanics and microengineering, 2012-04, Vol.22 (4), p.45005-11
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2011 International Electron Devices Meeting, 2011, p.31.7.1-31.7.4
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Japanese Journal of Applied Physics, 2012-04, Vol.51 (4S), p.4
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中華皮膚科醫學雜誌, 2005-09, Vol.23 (3), p.170-171
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2008 9th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology, 2008, p.64-67
2008
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2008 9th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology, 2008, p.227-230
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2008 9th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology, 2008, p.219-222
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2008 26th International Conference on Microelectronics, 2008, p.495-498
2008
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2008 26th International Conference on Microelectronics, 2008, p.499-501
2008
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Proceedings / International Conference on Computational & Experimental Engineering and Sciences, 2019, Vol.21 (3), p.54-54
2019
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IEEE electron device letters, 2011-10, Vol.32 (10), p.1427
2011
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IEEE electron device letters, 2011-10, Vol.32 (10), p.1427-1429
2011
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The 4th IEEE International NanoElectronics Conference, 2011, p.1-2
2011
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2008 9th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology, 2008, p.1154-1157
2008
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2008 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2008, p.1-4
2008
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