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Energy-Efficient and Metastability-Immune Resilient Circuits for Dynamic Variation Tolerance
IEEE journal of solid-state circuits, 2009-01, Vol.44 (1), p.49-63
2009
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Adaptive body bias for reducing impacts of die-to-die and within-die parameter variations on microprocessor frequency and leakage
IEEE journal of solid-state circuits, 2002-11, Vol.37 (11), p.1396-1402
2002
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Dynamic sleep transistor and body bias for active leakage power control of microprocessors
IEEE journal of solid-state circuits, 2003-11, Vol.38 (11), p.1838-1845
2003
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Effectiveness of adaptive supply voltage and body bias for reducing impact of parameter variations in low power and high performance microprocessors
IEEE journal of solid-state circuits, 2003-05, Vol.38 (5), p.826-829
2003
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Formal derivation of optimal active shielding for low-power on-chip buses
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2006-05, Vol.25 (5), p.821-836
2006
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A TCP offload accelerator for 10 Gb/s Ethernet in 90-nm CMOS
IEEE journal of solid-state circuits, 2003-11, Vol.38 (11), p.1866-1875
2003
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Reducing the Effective Coupling Capacitance in Buses Using Threshold Voltage Adjustment Techniques
IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers, 2006-09, Vol.53 (9), p.1928-1933
2006
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Impact of Parameter Variations on Circuits and Microarchitecture
IEEE MICRO, 2006-11, Vol.26 (6), p.30-39
2006
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Refueling: Preventing Wire Degradation due to Electromigration
IEEE MICRO, 2008-11, Vol.28 (6), p.37-46
2008
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A Low Cost Scheme for Reducing Silent Data Corruption in Large Arithmetic Circuits
2008 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance of VLSI Systems, 2008, p.343-351
2008
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Energy-efficient and metastability-immune timing-error detection and recovery circuits for dynamic variation tolerance
2008 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology and Tutorial, 2008, p.155-158
2008
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5-GHz 32-bit integer execution core in 130-nm dual-VT CMOS
IEEE journal of solid-state circuits, 2002-11, Vol.37 (11), p.1421
2002
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Measurements and analysis of SER-tolerant latch in a 90-nm dual-V/sub T/ CMOS process
IEEE journal of solid-state circuits, 2004-09, Vol.39 (9), p.1536-1543
2004
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Measurements and analysis of SER-tolerant latch in a 90-nm Dual-VT CMOS process
IEEE journal of solid-state circuits, 2004-09, Vol.39 (9), p.1536-1543
2004
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Measurements and analysis of SER-tolerant latch in a 90-nm dual-V sub(T) CMOS process
IEEE journal of solid-state circuits, 2004-09, Vol.39 (9)
2004
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Comparative analysis of conventional and statistical design techniques
2007 44th ACM/IEEE Design Automation Conference, 2007, p.238-243
2007
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5-GHz 32-bit integer execution core in 130-nm dual-V/sub T/ CMOS
IEEE journal of solid-state circuits, 2002-11, Vol.37 (11), p.1421-1432
2002
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Leakage and process variation effects in current testing on future CMOS circuits
IEEE design & test of computers, 2002-09, Vol.19 (5), p.36-43
2002
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Competing Institutional Logics and Paradoxical Universalism: School-to-Work Transitions of Disabled Youth in Switzerland and the United States
Social inclusion, 2020-01, Vol.8 (1), p.155-167
2020
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