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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2021-05, Vol.34 (2), p.161-167
2021
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2020-08, Vol.33 (3), p.383-390
2020
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2022-05, Vol.35 (2), p.272-281
2022
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2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.549-553
2022
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2021 IEEE International Test Conference (ITC), 2021, p.309-313
2021
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Wafer-level test path pattern recognition and test characteristics for test-induced defect diagnosis
2020
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Wafer-Level Test Path Pattern Recognition and Test Characteristics for Test-Induced Defect Diagnosis
2020
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2021 IEEE European Test Symposium (ETS), 2021, p.1-2
2021
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Physical review. D, Particles and fields, 1975-01, Vol.11 (1), p.81-88
1975
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Insect biochemistry, 1989, Vol.19 (4), p.431-433
1989
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