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2023
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Physical review. B, Condensed matter and materials physics, 2014-09, Vol.90 (12), Article 125418
2014
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ESSDERC 2021 - IEEE 51st European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2021, p.255-258
2021
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
2020
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Physical review letters, 2008-07, Vol.101 (3), p.036808-036808, Article 036808
2008
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RSC advances, 2016-01, Vol.6 (8), p.6782-6787
2016
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Solid-state electronics, 2013-06, Vol.84, p.179-184
2013
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Physica Status Solidi (b), 2010-12, Vol.247 (11-12), p.2962-2967
2010
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The European physical journal. B, Condensed matter physics, 2005-08, Vol.46 (3), p.427-431
2005
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Physical review letters, 2005-02, Vol.94 (6), p.066801.1-066801.4, Article 066801
2005
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Journal of physics. Conference series, 2009-11, Vol.193 (1), p.012126, Article 012126
2009
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Journal of computational electronics, 2013-12, Vol.12 (4), p.675-684
2013
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Solid-state electronics, 2021-12, Vol.186, p.108126, Article 108126
2021
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Solid-state electronics, 2022-08, Vol.194, p.108356, Article 108356
2022
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2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2015, p.4-7
2015
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2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2015, p.28-31
2015
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New journal of physics, 2007-03, Vol.9 (3), p.56-56
2007
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2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2017, p.29.2.1-29.2.4
2017
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2023 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2023, p.333-336
2023
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2013 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2013, p.1-2
2013
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2024 IEEE European Solid-State Electronics Research Conference (ESSERC), 2024, p.557-560
2024
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Nano letters, 2008-12, Vol.8 (12), p.4146-4150
2008
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Quantum transport length scales in silicon-based semiconducting nanowires: Surface roughness effects
2008
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Applied physics letters, 2005-09, Vol.87 (13), p.133101-133101-3
2005
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Comptes rendus. Physique, 2009-05, Vol.10 (4), p.305-319
2009
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