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2000 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (Cat. No.00CH37017), 2000, Vol.2, p.609-612 vol.2
2000
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Proceedings. 16th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.98TB100231), 1998, p.28-33
1998
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Proceedings IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2000, p.78-86
2000
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Core interconnect testing hazards
Proceedings Design, Automation and Test in Europe, 1998, p.953-954
1998
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Proceedings IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2000, p.114-122
2000
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Core interconnect testing hazards
Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe; 23-26 Feb. 1998, 1998, p.953-954
1998
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