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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on electron devices, 2013-03, Vol.60 (3), p.965-971
2013
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2014 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2014, p.21-24
2014
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2013 14th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS), 2013, p.113-116
2013
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2013 14th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS), 2013, p.133-136
2013
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Chemical science (Cambridge), 2020-03, Vol.11 (25), p.651-652
2020
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Zeitschrift für anorganische und allgemeine Chemie (1950), 2020-07, Vol.646 (13), p.726-733
2020
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Microelectronics and reliability, 2015-08, Vol.55 (9-10), p.1307-1312
2015
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Microelectronics and reliability, 2015-08, Vol.55 (9-10), p.1307-1312
2015
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2016 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2016, p.213-216
2016
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2016 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2016, p.23-26
2016
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
2016
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Journal of physics. Conference series, 2008-03, Vol.109 (1), p.012009, Article 012009
2008
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2016 IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (NMDC), 2016, p.1-2
2016
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2010 Silicon Nanoelectronics Workshop, 2010, p.1-2
2010
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Silicon-on-insulator (SOI) Technology, 2014, p.195,203e,203-202,206e,211
2014
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Silicon-on-Insulator (SOI) Technology - Manufacture and Applications, 2014, p.1-1
2014
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Silicon-on-insulator (SOI) Technology, 2014, p.xi-xiii
2014
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Radiology, 1975-10, Vol.117 (1), p.173-178
1975
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