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Hazards of dichlorosilane exhaust deposits from the high-temperature oxide process as determined by FT-ICR mass spectrometry
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2001-02, Vol.14 (1), p.20-25
2001
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In situ transmission Fourier transform infrared (FT-IR) spectroscopy investigations of the surface chemistry of gettering common gases in vacuum systems with a common commercial flashed getter alloy as a function of temperature
Vibrational spectroscopy, 2007-05, Vol.44 (1), p.9-18
2007
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Open Access
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Method for measuring deuterium in erbium deuteride films
Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, 1999-07, Vol.17 (4), p.2125-2131
1999
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Laser-induced fluorescence spectrometry of methylnaphthalene derivatives prepared in a low-temperature aromatic crystal
Analytical chemistry (Washington), 1984-07, Vol.56 (8), p.1542-1544
1984
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Effects of Moisture and Hydrogen Exposure on Radiation-Induced MOS Device Degradation and Its Implications for Long-Term Aging
IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.3206-3215
2008
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