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IEEE electron device letters, 2014-05, Vol.35 (5), p.506-508
2014
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IEEE transactions on electron devices, 2009-10, Vol.56 (10), p.2291-2296
2009
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Japanese Journal of Applied Physics, 2005-01, Vol.44 (4L), p.L584
2005
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2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2008, p.262-269
2008
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Microelectronics and reliability, 2000-06, Vol.40 (6), p.991-996
2000
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Physical review. B, Condensed matter, 2000-07, Vol.62 (2), p.839-843
2000
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2018 IEEE 34th International Conference on Data Engineering (ICDE), 2018, p.1605-1608
2018
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