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Nuclear Engineering and Technology, 2022, 54(8), , pp.2871-2876
2022
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Microelectronics and reliability, 2021-10, Vol.125, p.114350, Article 114350
2021
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Microelectronics and reliability, 2019-09, Vol.100-101, p.113378, Article 113378
2019
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Microelectronics and reliability, 2018-09, Vol.88-90, p.961-964
2018
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Optics and laser technology, 2020-08, Vol.128, p.106245, Article 106245
2020
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Nuclear engineering and technology, 2022, Vol.54 (8), p.2871-2876
2022
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Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.1745-1748
2014
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