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2009
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Microelectronics and reliability, 2003-07, Vol.43 (7), p.1039-1045
2003
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Analysis and Modeling for Reverse Body Bias Stress Impact on HCI Induced Degradation in n-Type EDMOS
2022
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Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005, 2005, p.71-75
2005
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2002 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2002, p.186-193
2002
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2005 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2005, p.1-8
2005
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Proceedings of the 1999 7th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (Cat. No.99TH8394), 1999, p.123-127
1999
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