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Effect of electric field polarity on inter-poly dielectric during cell operation for the retention characteristics
Microelectronics and reliability, 2015-04, Vol.55 (5), p.795-798
2015
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Field-dependent charge trapping analysis of ONO inter-poly dielectrics for NAND flash memory applications
Solid-state electronics, 2014-04, Vol.94, p.51-55
2014
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Reliability issue of 20 nm MLC NAND Flash
2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013, p.3B.2.1-3B.2.4
2013
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Methodology for improvement of data retention in floating gate flash memory using leakage current estimation
Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1338-1341
2013
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A highly manufacturable integration technology of 20nm generation 64Gb multi-level NAND flash memory
2011 Symposium on VLSI Technology - Digest of Technical Papers, 2011, p.70-71
2011
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Open Access
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Spectrum of mucin-producing neoplastic conditions of the abdomen and pelvis：Cross-sectional imaging evaluation
World journal of gastroenterology : WJG, 2011-11, Vol.17 (43), p.4757-4771
2011
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Optimization of control gate material and structure for enhancing 20nm 64Gb NAND flash reliability
Proceedings of Technical Program of 2012 VLSI Technology, System and Application, 2012, p.1-2
2012
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Interlayer dielectric (ILD)-related edge channel effect in high density DRAM cell
Digest. International Electron Devices Meeting, 2002, p.827-830
2002
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Analysis of Intrinsic Charge Loss Mechanisms for Nanoscale nand Flash Memory
IEEE transactions on device and materials reliability, 2015-09, Vol.15 (3), p.319-325
2015
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Comparison of diameters of ipsilateral and contralateral internal mammary arteries by breast MRI in patients with unilateral breast cancer
Japanese journal of radiology, 2016-06, Vol.34 (6), p.409-413
2016
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A case of epidermoid cyst in an intrapancreatic accessory spleen mimicking pancreas neoplasms: MRI with DWI
Clinical imaging, 2016-01, Vol.40 (1), p.164-166
2016
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