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IEEE transactions on electron devices, 2013-09, Vol.60 (9), p.2847-2853
2013
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IEEE transactions on electron devices, 2012-11, Vol.59 (11), p.3042-3047
2012
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IEEE transactions on electron devices, 2012-04, Vol.59 (4), p.1149-1154
2012
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Microelectronics and reliability, 2016-06, Vol.61, p.125-128
2016
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2019 31st International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2019, p.299-302
2019
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2012 IEEE Sensors, 2012, p.1-4
2012
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Analytical chemistry (Washington), 2014-08, Vol.86 (16), p.8359-8367
2014
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2006 IEEE international SOI Conferencee Proceedings, 2006, p.19-20
2006
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VLSI Design, Automation and Test(VLSI-DAT), 2015, p.1-1
2015
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2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications, 2015, p.1-1
2015
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2011 16th International Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems Conference, 2011, p.807-810
2011
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International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications, 1989, p.36-40
1989
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Statistics in medicine, 2011-07, Vol.30 (17), p.2171-2186
2011
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