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Japanese Journal of Applied Physics, 2018-01, Vol.57 (1), p.16601
2018
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IEICE transactions on electronics, 2016, Vol.E99.C (4), p.466-473
2016
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Japanese Journal of Applied Physics, 2014-06, Vol.53 (6), p.64303-1-064303-6
2014
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Japanese Journal of Applied Physics, 2013-06, Vol.52 (6), p.064301-064301-8
2013
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IEICE transactions on electronics, 2014-01, Vol.E97.C (11), p.1117-1123
2014
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Japanese Journal of Applied Physics, 2012-09, Vol.51 (9), p.094301-094301-4
2012
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Japanese Journal of Applied Physics, 2012-09, Vol.51 (9R), p.94301
2012
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2012
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2011
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2011
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2009 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2009, p.81-84
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2013 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2013, p.108-111
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2010 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2010, p.76-79
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2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2012, p.73-76
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2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2008, p.86-89
2008
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Solid-state electronics, 1999, Vol.43 (1), p.97-102
1999
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Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 1995-12, Vol.35 (1), p.421-428
1995
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