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IEEE sensors journal, 2015-10, Vol.15 (10), p.5404-5415
2015
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IEICE Transactions on Information and Systems, 2016/01/01, Vol.E99.D(1), pp.30-39
2016
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2008-10, Vol.57 (10), p.2265-2272
2008
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2001
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Open Access
Stuck-fault tests vs. actual defects
Proceedings International Test Conference 2000 (IEEE Cat. No.00CH37159), 2000, p.336-342
2000
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2014
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2001
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2014 IEEE International Conference on Internet of Things (iThings), and IEEE Green Computing and Communications (GreenCom) and IEEE Cyber, Physical and Social Computing (CPSCom), 2014, p.264-271
2014
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IEICE transactions on information and systems, 2015-12, Vol.E99.D (1), p.30-39
2015
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2014 Sixth International Conference on Ubiquitous and Future Networks (ICUFN), 2014, p.289-294
2014
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2014 International Conference on Information Science, Electronics and Electrical Engineering, 2014, Vol.3, p.1619-1623
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Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat. No.98CH36270), 1998, p.184-193
1998
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Test chip experiments at stanford CRC
2009 International Test Conference, 2009, p.1-1
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Open Access
MINVDD testing for weak CMOS ICs
Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, p.339-344
2001
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22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings, 2004, p.16-22
2004
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Open Access
Cold delay defect screening
Proceedings 18th IEEE VLSI Test Symposium, 2000, p.183-188
2000
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Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, p.404-409
2001
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Journal of mountain science, 2014-02, Vol.11 (1), p.1-18
2014
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Journal of systematics and evolution : JSE, 2011-03, Vol.49 (2), p.162-162
2011
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Proceedings. 16th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.98TB100231), 1998, p.118-123
1998
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