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Scientific reports, 2023-06, Vol.13 (1), p.10172-10172, Article 10172
2023
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2018
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2014
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2016
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Japanese Journal of Applied Physics, 2014-06, Vol.53 (6), p.64303-1-064303-6
2014
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IEICE transactions on electronics, 2014-01, Vol.E97.C (11), p.1117-1123
2014
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Japanese Journal of Applied Physics, 2012-09, Vol.51 (9), p.094301-094301-4
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Japanese Journal of Applied Physics, 2012-09, Vol.51 (9R), p.94301
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2011 IEEE ICMTS International Conference on Microelectronic Test Structures, 2011, p.8-12
2011
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