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Application of spectral reflectance to the monitoring of ZnO nanorod growth
Applied surface science, 2008-11, Vol.255 (3), p.746-748
2008
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Optical properties of bismuth niobate thin films studied by spectroscopic ellipsometry
Thin solid films, 2010-09, Vol.518 (22), p.6526-6530
2010
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Imaging ellipsometry study on the Ni-mediated crystallization of a - Si
Journal of applied physics, 2006-12, Vol.100 (11), p.113529-113529-5
2006
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Observation of new critical point in InxAl1-xAs alloy using spectroscopic ellipsometry
Applied surface science, 2009-11, Vol.256 (4), p.1031-1034
2009
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Optical Properties of InP at a Higher Bandgap Region Studied at 25 K and 300 K by Using Ellipsometry
Journal of the Korean Physical Society, 2009, 55(3), , pp.1136-1139
2009
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Roughness Analysis of the Critical Dimension by Using Spectroscopic Ellipsometry
Journal of the Korean Physical Society, 2011, 58(51), , pp.1426-1428
2011
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Dielectric Function Study on InGaAs Alloy Films
Journal of the Korean Physical Society, 2004, 44(32), , pp.726-729
2004
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Study on Interface Analysis by Using Spectroscopic Ellipsometry
Journal of the Korean Physical Society, 2009, 55(6), , pp.2625-2629
2009
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Study of the Dielectric Function of ZnS by Spectroscopic Ellipsometry
Journal of the Korean Physical Society, 2003, 42(III), , pp.238-241
2003
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Dielectric function and band gap study of ZnSe film
Journal of the Korean Physical Society, 2008, 52(0), , pp.84-87
2008
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Optical Properties of InP at a Higher Bandgap Region Studied at 25 K and 300 K by Using Ellipsometry
Journal of the Korean Physical Society, 2009-09, p.1136-1139
2009
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Roughness Analysis of the Critical Dimension by Using Spectroscopic Ellipsometry
Journal of the Korean Physical Society, 2011-05, p.1426-1428
2011
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Spectroscopic Ellipsometric Analysis of a Si Grating Pattern Made by Photolithography
Journal of the Korean Physical Society, 2008, 53(3), , pp.1520-1524
2008
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Spectroscopic ellipsometric analysis of interfaces: Comparison of alloy and effective-medium-approximation approaches to a CdMgTe multilayer system
Applied physics letters, 2004-08, Vol.85 (6), p.946-948
2004
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Study on Interface Analysis by Using Spectroscopic Ellipsometry
Journal of the Korean Physical Society, 2009-12, p.2625-2629
2009
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Dielectric function and band gap study of ZnSe film
Journal of the Korean Physical Society, 2008-02, p.84-87
2008
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Analysis on the Grating Structure of Si by Using Spectroscopic Elipsometry
Journal of the Korean Physical Society, 2008-10, p.2324-2327
2008
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Spectroscopic Ellipsometric Analysis of a Si Grating Pattern Made by Photolithography
Journal of the Korean Physical Society, 2008-09, p.1520-1524
2008
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Optical Properties of InGaAs Alloy Films in the E2 Region by Spectroscopic Ellipsometry
Journal of the Korean Physical Society, 2003, 42(III), , pp.242-245
2003
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Ellipsometric Analysis on Interface Effects in CdMgTe and AlGaAs Multilayer Systems
Journal of the Korean Physical Society, 2005, 46(2), , pp.171-174
2005
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Dielectric response of AlSb from 0.7 to 5.0 eV determined by in situ ellipsometry
Applied physics letters, 2009-06, Vol.94 (23)
2009
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Overlayer effects in the critical-point analysis of ellipsometric spectra: Application to InxGa1−xAs alloys
Journal of applied physics, 2008-04, Vol.103 (7)
2008
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Optical properties of InxAl1−xAs alloy films
Applied physics letters, 2008-04, Vol.92 (15)
2008
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Observation of new critical point in In x Al 1− x As alloy using spectroscopic ellipsometry
Applied surface science, 2009-11, Vol.256 (4), p.1031-1034
2009
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Overlayer effects in the critical-point analysis of ellipsometric spectra: Application to In x Ga 1 − x As alloys
Journal of applied physics, 2008-04, Vol.103 (7), p.073502-073502-5
2008
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