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2024
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Journal of materials science. Materials in electronics, 2022, Vol.33 (2), p.1063-1077
2022
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2024, Vol.58 (6), p.519-524
2024
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Radiation effects and defects in solids, 2023-07, Vol.178 (7-8), p.1012-1024
2023
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Radiation effects and defects in solids, 2019-10, Vol.174 (9-10), p.859-872
2019
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Radiation effects and defects in solids, 2017-12, Vol.172 (11-12), p.952-963
2017
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Radiation effects and defects in solids, 2018-08, Vol.173 (7-8), p.683-693
2018
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Radiation effects and defects in solids, 2017-04, Vol.172 (3-4), p.235-249
2017
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Journal of computational and theoretical nanoscience, 2019-08, Vol.16 (8), p.3319-3323
2019
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Radiation effects and defects in solids, 2017-12, Vol.172 (11-12), p.922-930
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Materials chemistry and physics, 2024-08, Vol.322, p.129518, Article 129518
2024
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Inorganic chemistry communications, 2024-07, Vol.165, p.112562, Article 112562
2024
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Solid-state electronics, 2023-08, Vol.206, p.108671, Article 108671
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Microelectronics and reliability, 2022-10, Vol.137, p.114754, Article 114754
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Journal of materials science. Materials in electronics, 2023-02, Vol.34 (5), Article 372
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AIP Conference Proceedings, 2020, Vol.2265 (1)
2020
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Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 2024-12, Vol.310, p.117775, Article 117775
2024
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AIP Conference Proceedings, 2020, Vol.2265 (1)
2020
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Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2016-07, Vol.379, p.265-271
2016
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Nuclear Engineering and Technology, 2019, 51(5), , pp.1428-1435
2019
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Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2016-07, Vol.379, p.265-271
2016
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AIP conference proceedings, 2017, Vol.1832 (1)
2017
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1, 2024
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2019-12, Vol.19 (4), p.696-703
2019
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2018-12, Vol.18 (4), p.592-598
2018
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