Sortiert nach
2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2021, p.15-18
2021
Volltextzugriff (PDF)
2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020, p.63-66
2020
Volltextzugriff (PDF)
2018 48th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2018, p.202-205
2018
Volltextzugriff (PDF)
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-6
2021
Volltextzugriff (PDF)
2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017, p.245-248
2017
Volltextzugriff (PDF)
2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2016, p.30.7.1-30.7.4
2016
Volltextzugriff (PDF)
2018 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2018, p.1-4
2018
Volltextzugriff (PDF)
Elektrotechnik und Informationstechnik, 1999-11, Vol.116 (11), p.636-641
1999
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Finfets
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Physical Sciences
- Physics
- Physics, Applied
- Science & Technology
- Semiconductor Process Modeling
- Technology
- Logic Gates
- Mathematical Model
- Computational Modeling
- Mathematics
- Mathematics, Applied
- Performance Evaluation
- Physics, Condensed Matter
- Scattering
- Silicon
- Spice
- Bias Temperature Instabilities
Kollektion
Zeitschrift / Serie