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Journal of electronic testing, 2004-02, Vol.20 (1), p.11-23
2004
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1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1997, p.100-108
1997
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1998 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. Surfing the Waves of Science and Technology (Cat. No.98EX196), 1998, Vol.2, p.433-436 vol.2
1998
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1995 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 1995, Vol.1, p.389-392 vol.1
1995
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