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2014
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Solar energy, 2013-12, Vol.98, p.440-447
2013
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2005, Vol.39 (11), p.1346
2005
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Solar energy, 2014, Vol.106, p.88-94
2014
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Solar energy, 2013-12, Vol.98, p.440-447
2013
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2012-06, Vol.46 (6), p.832-837
2012
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2012-06, Vol.46 (6), p.832-837
2012
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2012-09, Vol.46 (9), p.1194-1200
2012
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2008-04, Vol.42 (4), p.406-413
2008
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Solar energy, 2013-12, Vol.98, p.440-447
2013
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2011-03, Vol.45 (3), p.369-375
2011
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Applied solar energy, 1991, Vol.27 (3), p.16-19
1991
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High temperature material processes, 2019, Vol.23 (3), p.195-208
2019
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High temperature material processes, 2019, Vol.23 (3), p.255-273
2019
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Journal of applied spectroscopy, 2013, Vol.79 (6), p.1002-1005
2013
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Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics, 2015-11, Vol.79 (11), p.1360
2015
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Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics, 2015, Vol.79 (11), p.1360-1363
2015
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Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics, 2015-11, Vol.79 (11), p.1360-1363
2015
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Russian microelectronics, 2014, Vol.43 (1), p.1-8
2014
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International Journal of Emerging Technology and Advanced Engineering, 2021-12, Vol.11 (12), p.1-12
2021
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Russian microelectronics, 2008-11, Vol.37 (6), p.349-355
2008
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Measurement techniques, 1983-06, Vol.26 (6), p.521-522
1983
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