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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, p.1-6
2020
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Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113799, Article 113799
2020
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2021 IEEE 32nd International Conference on Microelectronics (MIEL), 2021, p.45-54
2021
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2012 NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems (AHS), 2012, p.182-189
2012
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14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, 2011, p.121-125
2011
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IEEE transactions on nuclear science, 2021-08, Vol.68 (8), p.1772-1781
2021
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IEEE transactions on emerging topics in computing, 2022, Vol.10 (2), p.564-580
2022
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2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2019, p.1-6
2019
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Microprocessors and microsystems, 2022-04, Vol.90, p.104486, Article 104486
2022
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2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2013, p.255-260
2013
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2019 29th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2019, p.150-157
2019
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IEEE EUROCON 2017 -17th International Conference on Smart Technologies, 2017, p.301-306
2017
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2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2018, p.1-6
2018
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2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2020, p.1-6
2020
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2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 2019, p.514-521
2019
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2019 26th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2019, p.594-597
2019
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2020 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2020, p.1-8
2020
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2018 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC), 2018, p.1-4
2018
Volltextzugriff (PDF)
2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS), 2018, p.123-126
2018
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2014 IEEE 8th International Symposium on Embedded Multicore/Manycore SoCs, 2014, p.175-180
2014
Volltextzugriff (PDF)
2014 NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems (AHS), 2014, p.233-239
2014
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2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 2020, p.484-488
2020
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2016 IEEE 19th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2016, p.1-6
2016
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2012 13th Latin American Test Workshop (LATW), 2012, p.1-5
2012
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