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IEEE transactions on electron devices, 2005-12, Vol.52 (12), p.2559-2567
2005
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Open Access
A Scalable RFCMOS Noise Model
IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2009-05, Vol.57 (5), p.1009-1019
2009
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IEEE transactions on electron devices, 2008-04, Vol.55 (4), p.1058-1066
2008
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2007-09, Vol.55 (9), p.1844-1853
2007
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2017 International Conference of Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2017, p.1-4
2017
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2005-05, Vol.18 (2), p.246-254
2005
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2003-05, Vol.16 (2), p.220-227
2003
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2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2019, p.180-183
2019
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International journal of microwave science and technology, 2011-12, Vol.2011 (2011), p.1-16
2011
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Electromagnetic waves (Cambridge, Mass.), 2013-11, Vol.143, p.1-18
2013
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2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2020, p.1-4
2020
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2017 89th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG), 2017, p.1-4
2017
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