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Composition and structure of the Co–Al interface for thin Co films deposited on Al(0 0 1) and Al(1 1 0) surfaces at room temperature
Surface science, 2001-04, Vol.476 (3), p.152-160
2001
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Room temperature growth of thin Fe films on Al(001) and Al(110) surfaces
Surface science, 1996-09, Vol.365 (1), p.78-86
1996
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Using MeV ion backscattering/channeling and MC simulations to characterize the composition and structure of buried metal–metal interfaces
Applied surface science, 2003-10, Vol.219 (1), p.28-38
2003
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Growth of ultrathin Pd films on Al(001) surfaces
Surface science, 1996-04, Vol.350 (1), p.11-20
1996
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Room temperature growth of thin Pd films on Al(110) surfaces
Surface science, 1997-03, Vol.373 (2), p.221-229
1997
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Rutherford backscattering and channeling studies of a TiO2 (100) substrate, epitaxially grown pure and Nb-doped TiO2 films
Applied surface science, 1997-08, Vol.115 (4), p.381-385
1997
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Rutherford backscattering and channeling studies of a TiO 2(100) substrate, epitaxially grown pure and Nb-doped TiO 2 films
Applied surface science, 1997, Vol.115 (4), p.381-385
1997
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Application of secondary neutral mass spectrometry in low-energy sputtering yield measurements
Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 1997-06, Vol.129 (1), p.123-129
1997
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Epitaxial growth of fcc Ti films on Al(001) surfaces
Physical review. B, Condensed matter, 1997-10, Vol.56 (15), p.9841-9847
1997
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Growth of Transition Metal Films on AL(110) Surfaces
MRS proceedings, 1995, Vol.399, Article 135
1995
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