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Line Edge Roughness (LER)
Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM, 2016, Vol.56, p.19-35
2016
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Work Function Variation (WFV)
Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM, 2016, Vol.56, p.53-67
2016
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Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM, 2016, Vol.56, p.1-16
2016
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Tunnel FET (TFET)
Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM, 2016, Vol.56, p.103-119
2016
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Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM, 2016, Vol.56, p.91-101
2016
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Tri-Gate MOSFET
Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM, 2016, Vol.56, p.71-90
2016
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Random Dopant Fluctuation (RDF)
Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM, 2016, Vol.56, p.37-52
2016
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Variation-Aware Advanced CMOS Devices and SRAM, 2016, Vol.56, p.123-140
2016
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