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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2009-01, Vol.27 (1), p.490-493
2009
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Microelectronics and reliability, 2007-09, Vol.47 (9), p.1384-1388
2007
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2006 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2006, p.142-145
2006
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2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual, 2007, p.580-581
2007
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2008 9th International Conference on Ultimate Integration of Silicon, 2008, p.191-194
2008
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Applied neurophysiology, 1985, Vol.48 (1-6), p.324
1985
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