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Reliability of thin SiO2
Semiconductor science and technology, 1994-05, Vol.9 (5), p.989-1004
1994
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IEEE transactions on electron devices, 1994-05, Vol.41 (5), p.761-767
1994
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IEEE transactions on electron devices, 1994-07, Vol.41 (7), p.1227-1232
1994
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IEEE transactions on electron devices, 1994-07, Vol.41 (7), p.1227-1232
1994
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IEEE transactions on electron devices, 1994-05, Vol.41 (5), p.761-767
1994
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Reliability of thin SiO 2
Semiconductor science and technology, 1994-05, Vol.9 (5), p.989-1004
1994
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31st Annual Proceedings Reliability Physics 1993, 1993, p.7-12
1993
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1997 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 35th Annual, 1997, p.7-11
1997
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1992 Symposium on VLSI Technology Digest of Technical Papers, 1992, p.18-19
1992
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Annalen der Physik, 1963, Vol.466 (1-6), p.83-100
1963
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Phosphate Turnover and Pasteur Effect
Ciba Foundation Symposium — Regulation of Cell Metabolism, 1959, p.256-276
1959
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Annalen der Physik, 1963, Vol.466 (1‐6), p.83-100
1963
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