Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Reliability of thin SiO2
Semiconductor science and technology, 1994-05, Vol.9 (5), p.989-1004
1994
Link zum Volltext

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2003-05, Vol.16 (2), p.121-127
2003


IEEE journal of the Electron Devices Society, 2013-03, Vol.1 (3), p.66-75
2013
Link zum Volltext


IEEE transactions on electron devices, 1994-07, Vol.41 (7), p.1227-1232
1994
Link zum Volltext




MRS proceedings, 1995, Vol.387, p.187-200, Article 187
1995
Link zum Volltext


IEEE transactions on electron devices, 1994-07, Vol.41 (7), p.1227-1232
1994
Link zum Volltext

IEEE transactions on electron devices, 1994-05, Vol.41 (5), p.761-767
1994
Link zum Volltext

Reliability of thin SiO 2
Semiconductor science and technology, 1994-05, Vol.9 (5), p.989-1004
1994
Link zum Volltext


IEEE transactions on nuclear science, 1975-12, Vol.22 (6), p.2605-2610
1975

Helvetica chimica acta, 1929, Vol.12 (1), p.405-414
1929
Link zum Volltext

IEEE transactions on nuclear science, 1977-01, Vol.24 (6), p.2321-2326
1977

IEEE journal of solid-state circuits, 1979-06, Vol.SC-14, p.578-584
1979
Link zum Volltext


1974 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers, 1974, Vol.XVII, p.16-17
1974
Link zum Volltext

Helvetica chimica acta, 1929, Vol.12 (1), p.405-414
1929
Link zum Volltext

Zeitschrift für Naturforschung. A, A journal of physical sciences, 1960-04, Vol.15 (4), p.368-369
1960
Link zum Volltext

IEEE transactions on nuclear science, 1978-01, Vol.25 (6), p.1494-1501
1978

Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n