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IEEE journal on electromagnetic compatibility practice and applications, 2023-03, Vol.5 (1), p.1-1
2023







IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2009-10, Vol.58 (10), p.3418-3426
2009





Nippon Shokuhin Kagaku Kogaku Kaishi, 1997/03/15, Vol.44(3), pp.243-247
1997
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Wafer-Level LICCDM Device Testing
2021 43rd Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), 2021, Vol.43, p.1-8
2021
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2019 41st Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), 2019, Vol.EOS-41, p.1-7
2019
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