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2021
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2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS), 2020, p.1-6
2020
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IEEE transactions on computers, 2015-06, Vol.64 (6), p.1564-1578
2015
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IEEE transactions on emerging topics in computing, 2020-07, Vol.8 (3), p.627-641
2020
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2023 IEEE 32nd Asian Test Symposium (ATS), 2023, p.1-6
2023
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2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, p.1-6
2020
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2024 2nd International Symposium of Electronics Design Automation (ISEDA), 2024, p.785-785
2024
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2023 IEEE European Test Symposium (ETS), 2023, p.1-6
2023
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2023 53rd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W), 2023, p.203-206
2023
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2012 IEEE International Test Conference, 2012, p.1-9
2012
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2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS), 2018, p.6-11
2018
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2016 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2016, p.1-5
2016
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2015 10th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 2015, p.1-6
2015
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2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS), 2014, p.1-2
2014
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2015 10th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 2015, p.1-2
2015
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2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS), 2014, p.1-6
2014
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East-West Design & Test Symposium (EWDTS 2013), 2013, p.1-5
2013
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2010 East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2010, p.412-415
2010
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IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.50-55
2024
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