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Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2024-06, Vol.18 (3), p.586-593
2024
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Journal of applied physics, 2015-02, Vol.117 (5)
2015
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Semiconductor science and technology, 2012-10, Vol.27 (10), p.105028
2012
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Semiconductor science and technology, 2009-06, Vol.24 (6), p.065009-065009 (3)
2009
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Physica. B, Condensed matter, 2009-12, Vol.404 (23-24), p.4593-4596
2009
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IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2006-11, Vol.12 (6), p.1556-1560
2006
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Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 2008-01, Vol.146 (1), p.256-259
2008
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Semiconductor science and technology, 2006-10, Vol.21 (10), p.1459-1463
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Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2024-09 (5), p.61-68
2024
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2015-11, Vol.49 (11), p.1443-1447
2015
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physica status solidi (b), 2003-01, Vol.235 (1), p.79-84
2003
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2013-11, Vol.47 (11), p.1500-1503
2013
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