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Scaling properties of the tunneling field effect transistor (TFET): Device and circuit

Solid-state electronics, 2006, Vol.50 (1), p.44-51

2006

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Ergebnisse eines Humanbiomonitorings im Kontext schädlicher Bodenveränderungen und der geplanten Ausweisung eines Bodenplanungsgebietes

Gesundheitswesen (Bundesverband der Ärzte des Öffentlichen Gesundheitsdienstes (Germany)), 2013, Vol.75 (4)

2013

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Matching Model for Planar Bulk Transistors With Halo Implantation

IEEE electron device letters, 2011-07, Vol.32 (7), p.859-861

2011

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Analytical parameter extraction of the HBT equivalent circuit with T-like topology from measured S-parameters

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 1995-03, Vol.43 (3), p.493-498

1995

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Special Section on the International Conference on Microelectronic Test Structures

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2006-02, Vol.19 (1), p.1-1

2006

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Physical scaling rules for AlGaAs/GaAs power HBTs based on a small-signal equivalent circuit

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 1998-07, Vol.46 (7), p.1006-1009

1998

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Low-cost GaAs pHEMT MMIC's for millimeter-wave sensor applications

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 1998-12, Vol.46 (12), p.2560-2567

1998

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Precise characterization of long-distance mismatch of CMOS devices

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2001-11, Vol.14 (4), p.311-317

2001

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Comparison of distance mismatch and pair matching of CMOS devices

ESSCIRC 2004 - 29th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.03EX705), 2003, p.703-705

2003

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Blutgruppenbestimmung an historischem Knochenmaterial. Zur Problematik der Paläoserologie

Wurzburger medizinhistorische Mitteilungen, 1987, Vol.5, p.209

Schaper, U

1987

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Mismatch of MOSFET small signal parameters under analog operation

IEEE electron device letters, 2000-12, Vol.21 (12), p.552-553

2000

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MALTY––A memory test structure for analysis in the early phase of the technology development

Microelectronics and reliability, 2003-09, Vol.43 (9), p.1383-1387

2003

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The Lie-Poisson structure of integrable classical nonlinear sigma models

Communications in mathematical physics, 1993-02, Vol.152 (no. 1), p.167-190

1993

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70 – 90 GHz balanced resistive PHFET mixer MMIC

Electronics letters, 1998-07, Vol.34 (14), p.1377

1998

Volltextzugriff (PDF)

Current algebra of classical nonlinear sigma models

Communications in mathematical physics, 1992-05, Vol.146 (no. 2), p.397-402

1992

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Condition of the phloem and the persistence of mycoplasmalike organisms associated with apple proliferation and pear decline

Phytopathology, 1982, Vol.72 (7), p.736

Schaper, Ulrike

1982

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A Mycoplasma genitalium protein resembling the Mycoplasma pneumoniae attachment protein

Infection and Immunity, 1987-05, Vol.55 (5), p.1126-1131

1987

Volltextzugriff (PDF)

The algebra of the energy-momentum tensor and the Noether currents in classical nonlinear sigma models

Communications in mathematical physics, 1994, Vol.159 (no. 2), p.319-328

1994

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Ip2go: An Interior Point Source Code Generator for Solving Linear-Quadratic Optimal Control Problems

IFAC-PapersOnLine, 2017, Vol.50 (1), p.10632-10637

2017

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Nucleotide sequence of the envelope protein genes of a highly virulent, neurotropic strain of newcastle disease virus

Virology (New York, N.Y.), 1988-07, Vol.165 (1), p.291-295

1988

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Scaling of small-signal equivalent circuit elements for GaInP/GaAs hole-barrier bipolar transistors (HBBT)

IEEE transactions on electron devices, 1993-01, Vol.40 (1), p.222-224

1993

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Die gemischte Guerbet-Reaktion zwischen cyclischen und acyclischen Alkoholen

Fette, Seifen, Anstrichmittel, 1980, Vol.82 (11), p.454-456

Schaper, U.-A.

1980

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Impact of Transitor Matching on Features of Digital Circuit Blocks

2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2007, p.78-82

2007

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Low cost GaAs PHEMT MMICs for millimeter-wave sensor applications

1998 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (Cat. No.98CH36192), 1998, Vol.1, p.227-230 vol.1

1998

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Parameter variation on chip-level

Proceedings of the 2005 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2005. ICMTS 2005, 2005, p.155-158

2005

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