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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2008-06, Vol.27 (6), p.1066-1077
2008
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2006-07, Vol.25 (7), p.1313-1326
2006
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2007-04, Vol.26 (4), p.632-644
2007
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International journal of radiation oncology, biology, physics, 2022-11, Vol.114 (3), p.e384-e385
2022
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2007-12, Vol.26 (12), p.2173-2185
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2008 Design, Automation and Test in Europe, 2008, p.1069-1074
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2008 45th ACM/IEEE Design Automation Conference, 2008, p.846-851
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2007 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, 2007, p.496-502
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2009 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design - Digest of Technical Papers, 2009, p.357-362
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2008 IEEE International Workshop on Hardware-Oriented Security and Trust, 2008, p.65-66
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Diffusion of Hf and Nb in Zr19%Nb
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Diffusion and defect data. Solid state data. Pt. A, Defect and diffusion forum, 1997-01, Vol.143-147, p.49-54
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