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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on electron devices, 2024-01, Vol.71 (1), p.547-553
2024
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Microelectronic engineering, 2022-02, Vol.254, p.111660, Article 111660
2022
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IEEE electron device letters, 2022-12, Vol.43 (12), p.2085-2088
2022
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2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2021, p.268-271
2021
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-5
2024
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-6
2024
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-6
2021
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IEEE electron device letters, 2003-02, Vol.24 (2), p.99-101
2003
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IEEE electron device letters, 2012-03, Vol.33 (3), p.333-335
2012
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IEEE journal of solid-state circuits, 2002-08, Vol.37 (8), p.1056-1064
2002
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2019 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2019, p.1-3
2019
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IEEE transactions on electron devices, 2007-06, Vol.54 (6), p.1351-1359
2007
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Solid-state electronics, 2023-01, Vol.199, p.108498, Article 108498
2023
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Journal of applied physics, 2006-01, Vol.99 (2)
2006
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IEEE electron device letters, 2007-04, Vol.28 (4), p.276-278
2007
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IEEE electron device letters, 2007-05, Vol.28 (5), p.436-439
2007
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ECS journal of solid state science and technology, 2023-04, Vol.12 (4), p.45003
2023
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2024 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2024, p.1-4
2024
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2024 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2024, p.1-4
2024
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2023 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2023, p.1-4
2023
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2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.1-4
2021
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2022 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2022, p.1-4
2022
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2023 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2023, p.1-4
2023
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2021 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2021, p.1-4
2021
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2022 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2022, p.1-4
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