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Electrochimica acta, 2010-07, Vol.55 (19), p.5459-5469
2010
Volltextzugriff (PDF)

2022 IEEE 72nd Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2022, p.446-454
2022
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 2024-08, Vol.159, p.115430, Article 115430
2024
Volltextzugriff (PDF)


Microelectronics and reliability, 2015-08, Vol.55 (9-10), p.1872-1876
2015
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.1661-1665
2014
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 2014-06, Vol.54 (6-7), p.1206-1211
2014
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1865-1868
2011
Volltextzugriff (PDF)

Journal of electrostatics, 2008-11, Vol.66 (11), p.567-573
2008
Volltextzugriff (PDF)

2020 IEEE 70th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2020, p.793-800
2020
Volltextzugriff (PDF)

2019 IEEE 69th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2019, p.1339-1346
2019
Volltextzugriff (PDF)

2020 IEEE 70th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2020, p.518-525
2020
Volltextzugriff (PDF)

2018 IEEE 20th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2018, p.219-224
2018
Volltextzugriff (PDF)

2019 IEEE 69th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2019, p.777-784
2019
Volltextzugriff (PDF)

2019 IEEE 69th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2019, p.479-485
2019
Volltextzugriff (PDF)


2018 7th Electronic System-Integration Technology Conference (ESTC), 2018, p.1-6
2018
Volltextzugriff (PDF)


Microelectronics and reliability, 2000-08, Vol.40 (8-10), p.1267-1272
2000
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 1999, Vol.39 (1), p.123-132
1999
Volltextzugriff (PDF)

2016 IEEE 66th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2016, p.774-781
2016
Volltextzugriff (PDF)

2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual, 2005, p.650-651
2005
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Journal of crystal growth, 1996-07, Vol.164 (1), p.263-270
1996
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Journal of crystal growth, 1999-04, Vol.200 (1), p.19-31
1999
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