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IEEE journal of solid-state circuits, 2000-12, Vol.35 (12), p.1908-1916
2000
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IEEE journal of solid-state circuits, 2000-04, Vol.35 (4), p.476-489
2000
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IEEE journal of solid-state circuits, 2001-08, Vol.36 (8), p.1205-1217
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Microelectronic engineering, 2000-12, Vol.54 (1-2), p.73-83
2000
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Microelectronic engineering, 2000-12, Vol.54 (1-2), p.63-71
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Proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures (IEEE Cat. No.04CH37516), 2004, p.273-277
2004
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Zeitschrift für Psychosomatische Medizin und Psychotherapie, 2024-01, p.OA1
2024
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